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免费直播课堂丨高端制样分析技术:离子研磨(CP)和聚焦离子束(FIB)

2020-04-07  浏览量:65

 

活动详情

离子研磨(CP)和聚焦离子束(FIB) ,高端制样分析技术,十大专题详解!

 

4月10日,针对高端制样技术:离子研磨(CP)与聚焦离子束(FIB),详细讲解:机械研磨与离子研磨技术对比;离子研磨在电子制造领域的应用优势,深度剖析离子研磨(CP)与聚焦离子束(FIB)技术特点与应用案例。广泛应用于:集成电路、半导体、芯片、PCB等电子产品的显微分析、内部或截面结构观察。

 

时间:2020年4月10日 15:00

 

形式:直播互动,提供回看,请务必加入交流群

 

课程限时免费,限额300人!

公众号后台回复“123”获取听课和入群资格。

高端制样分析技术,从技术原理到实际应用进行全面的讲解!

 

长按识别二维码回复:123

 

详解课表

1. 材料分析中传统制样技术的局限

2. 新一代的制样方法

3. CP离子研磨核心原理

4. CP离子研磨主要功能

5. CP离子研磨在材料分析中应用案例详解

6. CP离子研磨对于不同测试需求的样品要求详解

7. FIB聚焦离子束核心原理

8. FIB聚焦离子束主要功能

9. FIB聚焦离子束在材料分析中应用案例详解

10. CP与FIB 制样方法如何选择

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